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中南大学学报(自然科学版)

Journal of Central South University

第28卷    第6期    总第118期    1997年12月

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文章编号:(1997)06-88-4
论偏最小二乘校正方法的稳定性
满瑞林; 赵新那

(中南工业大学化学工程系;长沙;410083)

摘 要: 研究了多元校正方法——偏最小二乘 (PLS)在波长色散X射线荧光光谱分析中的应用,并将该法与传统的经验系数法(ECM)进行了比较.其考察对象为一组转炉渣文献数据、一组不锈钢样和一 组锌精矿样.结果表明,PLS比ECM准确、稳定.经分析探讨,认为其主要原因是PLS能滤除噪音.文中建立了描述浓度和强度本质的关系式. 

 

关键字: X射线荧光光谱; 偏最小二乘; 多元素分析; 数学校正

THE STABILITY OF THE PARTIAL LEAST SQUARES REGRESSION CALIBRATION
Man Ruilin Zhao Xinna

Department of Chemical Engineering,Central South University of Technology,Changsha,410083,China

Abstract:In the paper,a kind of multivariate calibration method,the partial least squares regression(PLS),used for the wavelength dispersive X ray fluorescence(XRF) spectrometry is studied,and compared with the traditional empirical coefficient methods(ECM).These studies relate to the intensities and concentrations of converter slags from literature,a set of stainless steel samples,and a set of zinc concentrate samples.The results show that the PLS is more accurate and more stable than ECM.The major reason is that the PLS calibration can filter noise,and set up the intrinsical relations between the concentrations and their intensities. 

 

Key words: X ray fluorescence spectrometry; partial least squares regression; multielement analysis; mathematical correction

中南大学学报(自然科学版)
  ISSN 1672-7207
CN 43-1426/N
ZDXZAC
中南大学学报(英文版)
  ISSN 2095-2899
CN 43-1516/TB
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